產(chǎn)品介紹

測(cè)試探針作為探針臺(tái)的核心部件之一，主要用途是接觸連接待測(cè)件電極，為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)導(dǎo)通條件，從不同應(yīng)用場(chǎng)景可分為鎢鋼探針、鎢鋼鍍金探針、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等，被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體及光電等行業(yè)的測(cè)試。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

.進(jìn)口鎢鋼探針，優(yōu)異的導(dǎo)電性能；

.探測(cè)線細(xì)而柔韌，最大限度減少對(duì)集成電路的損壞;

.我司特殊的鍍金工藝，保證針體機(jī)械屬性的同時(shí)，進(jìn)一步優(yōu)化其導(dǎo)電性能；

. 可測(cè)電流范圍：1fA-1A；

.多款針尖直徑可選，滿足不同應(yīng)用需求;

產(chǎn)品圖片（盒裝）

常規(guī)選型

應(yīng)用領(lǐng)域

測(cè)試探針，作為探針臺(tái)附件之一，適用于R/F測(cè)量，I/O點(diǎn)測(cè)量，直流DC測(cè)試，晶圓測(cè)試，電阻電壓測(cè)試，太陽(yáng)能電池測(cè)試，光電流測(cè)試，半導(dǎo)體器件分析測(cè)試等。